吉時利2602A數(shu)字(zi)源表(biao)具(ju)有特(te)殊的靈活性(xing)

    吉時利2602A數(shu)字(zi)源表(biao)是(shi)吉時利的新壹代(dai)數(shu)字(zi)源表(biao)源測(ce)量單元(yuan)（SMU），並(bing)且能(neng)在您指尖真正實(shi)現(xian)歐(ou)姆定(ding)律（電(dian)流、電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)阻）測(ce)試。其(qi)新(xin)穎(ying)的圖(tu)形(xing)用戶接口（GUI）和(he)先(xian)進(jin)的容性觸摸屏(ping)技術方便(bian)直觀(guan)使用。此(ci)技術能(neng)讓學習(xi)曲(qu)線zui短(duan)並(bing)讓工(gong)程(cheng)師(shi)和(he)科學家更輕松地創造(zao)、更聰(cong)明(ming)地(di)工(gong)作(zuo)而且更快速(su)地(di)學習(xi)。是(shi)壹款適(shi)合(he)所有人(ren)的通(tong)用SMU，特(te)別適(shi)於分(fen)析(xi)當(dang)今現(xian)代(dai)縮微(wei)半導(dao)體(ti)、納米(mi)器件(jian)和(he)材(cai)料(liao)、有機(ji)半(ban)導體(ti)、印制(zhi)電(dian)子產品及(ji)其(qi)它(ta)小尺(chi)寸和(he)低(di)功(gong)率(lv)器(qi)件(jian)的特性。所有這(zhe)壹切，加(jia)上(shang)傳(chuan)奇的吉時利高(gao)精度(du)、高(gao)分(fen)辨率(lv)、高(gao)準(zhun)確(que)度(du)和(he)高(gao)可(ke)靠(kao)性，為(wei)工程師和(he)科學家提供(gong)全(quan)新層(ceng)次的Touch,Test,Invent™以(yi)獲得全(quan)新、直(zhi)觀的源測試體(ti)驗。
    數(shu)字(zi)源表(biao)優勢(shi)
    能(neng)夠(gou)進(jin)行直流I-V測(ce)量，向負(fu)載（待測器(qi)件）施加(jia)電(dian)壓(ya)同(tong)時(shi)測(ce)量通(tong)過負(fu)載的電(dian)流，或(huo)者提供(gong)電(dian)流同(tong)時(shi)測(ce)量負(fu)載上的電(dian)壓(ya)降。無(wu)論(lun)采(cai)用上(shang)述(shu)哪種(zhong)方式(shi)，都可(ke)以(yi)采(cai)用本地(di)(雙線)和(he)遠(yuan)程(cheng)(四線)電(dian)壓(ya)測量。
    數(shu)字(zi)源表(biao)的靈活
    使得它(ta)像獨立的精密(mi)恒(heng)流源(yuan)或恒(heng)壓(ya)源或(huo)者單壹電(dian)壓(ya)表或(huo)電(dian)流表(biao)壹樣(yang)，很容(rong)易使用。源功(gong)能(neng)提供(gong)可(ke)編(bian)程四象限操(cao)作(zuo)，這(zhe)意(yi)味(wei)著它(ta)可(ke)以(yi)作(zuo)為雙極(ji)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流源(yuan)，而且可(ke)以(yi)輸(shu)出(chu)和(he)吸(xi)收(shou)功率(lv)。註(zhu)意(yi)，與許多(duo)傳(chuan)統電(dian)源不(bu)同(tong)的是(shi)，數(shu)字(zi)源表(biao)可(ke)以(yi)測(ce)量源(yuan)電(dian)流或(huo)源電(dian)壓(ya)的實(shi)際(ji)值(zhi)，這(zhe)比依靠(kao)設置(zhi)數(shu)值(zhi)能(neng)提供(gong)更高的精度(du)。保(bao)護(hu)電(dian)路可(ke)以(yi)在輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)源時(shi)，限(xian)制(zhi)通(tong)過負(fu)載的電(dian)流，保(bao)護(hu)待測器(qi)件；或(huo)者在輸(shu)出(chu)電(dian)流源(yuan)時，限(xian)制(zhi)負(fu)載上的電(dian)壓(ya)降，保(bao)護(hu)待測器(qi)件。
    數(shu)字(zi)源表(biao)還具(ju)有重(zhong)要的掃描(miao)和(he)脈(mai)沖能(neng)力。
    因此(ci)，考(kao)慮到(dao)許多(duo)交(jiao)流測(ce)量可(ke)以(yi)利(li)用脈(mai)沖或掃(sao)描(miao)直(zhi)流來(lai)實(shi)現(xian)，它(ta)為多(duo)種(zhong)測試需求(qiu)提供(gong)了(le)壹個通(tong)用的模擬(ni)I/O引(yin)腳。對(dui)於上面的普(pu)通(tong)IC實(shi)例(li)，這(zhe)意(yi)味(wei)著，盡管對當(dang)今某些(xie)混合(he)信號器件(jian)進(jin)行全(quan)面測試時可(ke)能(neng)需要額(e)外(wai)設(she)備，但壹個或多(duo)個數(shu)字(zi)源表(biao)往(wang)往(wang)能(neng)夠(gou)滿(man)足(zu)所(suo)有需求(qiu)。